(주)고영테크놀러지

 
가산동 디지털3단지에 있는 (주)고영테크놀러지는 3차원형상 측정방법에 관한 특허등록을 마쳤다. 이 특허는 먼저 데이터베이스로부터 특징치 정보를 불러온다. 이어서, 보드를 측정위치로 이동시킨다. 다음으로, 측정헤드를 보드의 검사영역으로 이동시킨다.

3차원 측정을 위한 제1조명과 2차원 측정을 위한 제2조명을 검사영역에 조사하고 반사된 제1반사 이미지와 제2반사 이미지를 촬영한다.

특징치 정보와 측정된 제1반사 이미지 및 제2반사이미지 중 적어도 하나 이상을 비교하여 검사영역의 왜곡을 검사하고 검사영역을 재설정한다. 이어서, 재설정된 검사영역을 검사한다.

이에 따라, 3차원형상을 정확하게 측정할 수 있다.

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