(주)스마트하이텍

 
가산동 서울디지털3단지 우림라이온스밸리1차에 있는 (주)스마트하이텍(대표 이남숙)은 팩 외관 검사 장치 및 방법에 관한 특허등록을 마쳤다. 팩(특히 전지팩)의 외관(특히 크기, 두께 등)을 자동으로 검사해 양호/불량을 판정할 수 있는 팩 외관 검사 장치와 그 방법이 개시된다.

이 발명에 의하면 양품 팩에서 측정된 검사 항목의 외관 정보를 기준값으로 저장한다. 이후 검사 대상 팩 외관을 스캔해 스캔한 팩의 외관 이미지에서 검사 항목의 크기 정보를 추출한다. 추출된 크기 정보를 양품 팩으로부터 측정된 기준값과 비교해 해당 팩의 양호 또는 불량을 판정한다. 여기서 팩의 크기 정보는, 경계선 검출 방식으로 검출된 두 지점 사이 픽셀 개수와 픽셀 해상도를 곱한 값이다.

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